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基于烧结机制的钙基吸收剂团聚体结构演变模拟
纪杰, 李明春, 沈存粮, 杨鑫
应用化学    2023, 40 (12): 1726-1736.   DOI:10.19894/j.issn.1000-0518.230151
摘要   (116 HTML1 PDF (3703KB)(112)  

钙循环工艺是一种具有很大应用潜力的脱碳技术,但其吸收剂晶粒间的烧结现象会随循环而加剧,导致高活性介孔及相应碳捕集能力衰减。根据煅烧进程中钙基吸收剂表界面结构的形成与演变特性,构建了再生CaO孔隙通道的拓扑结构和分级团聚体烧结模型,引入了二面角的影响,探讨了不同烧结机制下钙基吸收剂的孔隙迁移规律,并进行实验验证。结果表明,再生CaO的烧结由表面-晶界-体积扩散联合控制; 所建数学模型可揭示钙基吸收剂孔结构动态演变规律,900 ℃不同烧结时间下(300~600 s),粒径75~150 μm的吸收剂(孔径25~75 nm)的模拟计算结果与实验结果的孔体积变化率最大平均相对误差为16.50%,最可几孔径所对应的相对误差在6%内。相同烧结条件下,各粒级吸收剂(38~75、75~150、150~180 μm)的烧结颈生长出现明显的三段式生长,颈部生长率均呈前期快速增长、后期平缓趋势,且颗粒间的烧结会随吸收剂粒极的减小而加剧。

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图6 (A) 38~75 μm和(B) 75~150 μm粒级钙基吸收剂不同烧结机制控制下烧结300 s孔结构演变的模型计算结果与实验测量结果
正文中引用本图/表的段落
烧结物质迁移过程不仅涉及到了颈部长大,而且也必然涉及烧结致密化和孔隙尺寸变化过程。质点迁移速率与空位扩散速率会随烧结机制的不同而变化。图6和图7所示分别为900 ℃烧结300和600 s时,基于不同烧结机制所计算得到的孔径分布曲线,并与实测BJH孔径分布进行对比。
通过图6中模型计算结果与实测结果的对比可以看出,当用单一的烧结机制来研究烧结现象时,75~150和38~75 μm粒级钙基吸收剂所得到的孔径分布情况均与实测结果偏离较大,说明钙基吸收剂的烧结过程是复杂多样的。其中,晶界扩散机制控制下烧结300 s所模拟的孔径分布结果在30~100 nm范围内与实验结果最为相近。这是由于在烧结中期,晶粒间的接触界面增大,形成大量晶界。颈部表面张应力与晶粒接触中心压应力的不均匀分布现象非常明显,而此时表面扩散的驱动力已随颈部的增长而大幅弱化,体积扩散所对应的内部无应力区与颈部表面间空位迁移的驱动力也小于晶界扩散对应的驱动力。因而,此阶段空位主要是通过晶界由颈部凹表面流向颈部中心,导致颈部生长的同时孔洞既圆化又收缩(与实验现象相符)。
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